產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER是材料研究領(lǐng)域的**X射線衍射系統(tǒng)，分析樣品從粉末，多晶材料到單晶外延膜樣品。布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER可以使用戶非常方便的在材料研究領(lǐng)域的不同應(yīng)用之間切換，包括：反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內(nèi)掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析。
詳情介紹：
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER簡介：
D8 DISCOVER是配備了諸多黑科技的多功能衍射儀系統(tǒng)。分析樣品從粉末，多晶材料到單晶外延膜樣品。布魯克公司全新的D8 DISCOVER X射線衍射儀，材料研究領(lǐng)域的**X射線衍射系統(tǒng)。X射線衍射儀D8 DISCOVER采用**性的達芬奇設(shè)計，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動識別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以非常方便的在材料研究領(lǐng)域的不同應(yīng)用之間切換，包括：反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內(nèi)掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析。
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER特點：
第三代G?bel 鏡可以提供高通量X射線——這對于所有的薄膜應(yīng)用研究來說都是非常必要的。
整個系統(tǒng)的設(shè)計都基于簡單易行和故障保護的理念之上。像機械減震器這樣的工具允許在無用戶介入的情況下進行全自動操作。
可以根據(jù)不同樣品和具體應(yīng)用的需要從大量高性能的光學(xué)配件中進行選擇，從而達到的分辨率。
X射線衍射儀D8 DISCOVER采用新型UMC載物臺和各種不同類型的尤拉環(huán)可以組合成**的樣品承載系統(tǒng)，非常適于進行殘余應(yīng)力、織構(gòu)和微區(qū)衍射分析。在用X射線反射法對鍍層或者半導(dǎo)體進行研究時甚至還可以利用專用的樣品臺進行變溫研究。
不論是利用UltraGID(*級掠射入射衍射)對納米層進行研究還是利用V?NTEC-1檢測器對倒易空間測繪進行研究都可以**在*短的時間內(nèi)完成任務(wù)。
XRD Wizard和XRD
Commander可以在進行各種分析測試時向用戶提供*直觀的圖像，同時智能腳本負責(zé)常規(guī)性工作。評估計算程序LEPTOS和MULTEX
Area可以**用戶處于科技的前沿。
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER主要應(yīng)用：
晶格錯配
組份
應(yīng)變及弛豫過程
橫向結(jié)構(gòu)
鑲嵌度
薄膜厚度
組份
粗造度
密度
孔隙度
晶格錯配
組份
取向
弛豫
橫向結(jié)構(gòu)
晶胞參數(shù)
晶格錯配
橫向關(guān)聯(lián)性
取向
物相組成
孔隙度
取向定量
應(yīng)變
外延關(guān)聯(lián)
硬度
d值確定
擇優(yōu)取向
晶格對稱性
晶粒大小
D8 DISCOVER是配備了諸多黑科技的多功能衍射儀系統(tǒng)。分析樣品從粉末，多晶材料到單晶外延膜樣品。布魯克公司全新的D8 DISCOVER X射線衍射儀，材料研究領(lǐng)域的**X射線衍射系統(tǒng)。X射線衍射儀D8 DISCOVER采用**性的達芬奇設(shè)計，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動識別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以非常方便的在材料研究領(lǐng)域的不同應(yīng)用之間切換，包括：反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內(nèi)掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析。
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER特點：
第三代G?bel 鏡可以提供高通量X射線——這對于所有的薄膜應(yīng)用研究來說都是非常必要的。
整個系統(tǒng)的設(shè)計都基于簡單易行和故障保護的理念之上。像機械減震器這樣的工具允許在無用戶介入的情況下進行全自動操作。
可以根據(jù)不同樣品和具體應(yīng)用的需要從大量高性能的光學(xué)配件中進行選擇，從而達到的分辨率。
X射線衍射儀D8 DISCOVER采用新型UMC載物臺和各種不同類型的尤拉環(huán)可以組合成**的樣品承載系統(tǒng)，非常適于進行殘余應(yīng)力、織構(gòu)和微區(qū)衍射分析。在用X射線反射法對鍍層或者半導(dǎo)體進行研究時甚至還可以利用專用的樣品臺進行變溫研究。
不論是利用UltraGID(*級掠射入射衍射)對納米層進行研究還是利用V?NTEC-1檢測器對倒易空間測繪進行研究都可以**在*短的時間內(nèi)完成任務(wù)。
XRD Wizard和XRD
Commander可以在進行各種分析測試時向用戶提供*直觀的圖像，同時智能腳本負責(zé)常規(guī)性工作。評估計算程序LEPTOS和MULTEX
Area可以**用戶處于科技的前沿。
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER主要應(yīng)用：
- 高分辨XRD(HRXRD)
外延多層膜厚度
晶胞參數(shù)晶格錯配
組份
應(yīng)變及弛豫過程
橫向結(jié)構(gòu)
鑲嵌度
- X射線反射率(XRR)
組份
粗造度
密度
孔隙度
- 倒易空間圖譜(RSM)
晶格錯配
組份
取向
弛豫
橫向結(jié)構(gòu)
- 面內(nèi)掠入射衍射 (in-plane GID)
晶胞參數(shù)
晶格錯配
橫向關(guān)聯(lián)性
取向
物相組成
孔隙度
- 應(yīng)力和織構(gòu)分析
取向定量
應(yīng)變
外延關(guān)聯(lián)
硬度
- 物相鑒定(Phase ID)
d值確定
擇優(yōu)取向
晶格對稱性
晶粒大小
